顆粒粒度指顆粒的大小。通常球體顆粒的粒度用直徑表示，立方體顆粒的粒度用邊長(zhǎng)表示。對(duì)不規(guī)則的礦物顆粒，可將與礦物顆粒有相同行為的某一球體直徑作為該顆粒的等效直徑。有時(shí)候，在描述粉塵顆粒大小的時(shí)候也會(huì)用到。

利用梅特勒XP精密天平檢測(cè)顆粒粒度，需要配備篩分易巧稱(chēng)量組件。梅特勒篩分易巧稱(chēng)量組件，是將樣品篩固定在天平稱(chēng)量臺(tái)上，以方便顆粒物稱(chēng)量的輔件。用戶(hù)使用組件將樣品篩固定在天平稱(chēng)量臺(tái)后，只需輕點(diǎn)觸摸屏上的One Click? ,即可啟用一鍵稱(chēng)量篩分分析解決方案，根據(jù)屏幕提示步驟，樣品篩可逐步稱(chēng)量。

梅特勒電子天平用于顆粒粒度檢測(cè)步驟如下：

    1、一鍵啟動(dòng)任務(wù)，固定樣品篩正確位置并自動(dòng)稱(chēng)量所有空篩。

    2、篩分，篩分震動(dòng)器對(duì)樣品篩進(jìn)行篩分并完成樣品稱(chēng)量。

    3、回稱(chēng)，系統(tǒng)提示下一步篩分并顯示每個(gè)樣品篩的質(zhì)量。

    4、結(jié)果，顯示顆粒粒度分布百分比。

    5、記錄存檔，存儲(chǔ)數(shù)據(jù)，可隨時(shí)打印符合GLP結(jié)果報(bào)告。

    利用梅特勒XP超越系列分析天平檢測(cè)顆粒粒度簡(jiǎn)單易操作，更多梅特勒天平的應(yīng)用信息請(qǐng)關(guān)注馭锘實(shí)業(yè)（上海）有限公司，網(wǎng)址http://www.yusnoinstru.com/，或電話咨詢(xún)我們的工程師，電話18019377442 ，021-55122181